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Defects in Microelectronic Materials … Minimizing Defects in Microelectronics: Oxidation and Stress の詳細情報
Minimizing Defects in Microelectronics: Oxidation and Stress 。Defects in Microelectronic Materials and DevicesDaniel M. Fleetwood名前を消した跡があります。ほとんど読んでないので比較的良い状態です。書き込み、折り目はありません。（見落としがあるかもしれません。）中古品であることをご理解の上、ご検討いただけますと幸いです。お値引き、まとめ買い対応いたします。
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